01重庆半导体展
2026年5月13-15日，第八届全球半导体产业(重庆)展览会(GSIE2026)将在重庆国际博览中心盛大举办，本届展会以“新时代 创造‘芯’未来”为主题，覆盖集成电路制造、封装测试、半导体材料、生产设备等全产业链。值此行业盛会，立仪科技诚邀您莅临S1馆A123-1展位，共话半导体精密检测创新，共启产业“芯”征程！
02 展位引导
图丨立仪科技所在场馆 S1馆
图丨立仪科技展位 A123-1 引导图
03展品抢先看
针对半导体行业的检测痛点，我们带来高精度光谱共焦位移传感器产品，精准匹配半导体生产流程检测需求，用超高精度守护芯片品质与生产效率：
图丨点光谱共焦位移传感器
纳米级分辨率，采样速度高达33kHz，零接触测厚避免产品损伤，适配各类高透明、高反光、低反射率、粗糙等不同形状和复杂材质。
图丨晶圆平面度测量
晶圆平面度测量用于检测晶圆表面平整度与翘曲形变，采用光谱共焦非接触扫描，精度高、无损检测，适配各类半导体晶圆制程品质管控。
图丨涂覆头高度测量
涂覆头高度测量用于精准检测涂覆头与工件的间距，采用光谱共焦非接触式检测，实时稳定测距，保障点胶涂覆均匀一致与工艺精度。
04参观预登记
欢迎长按识别或扫描下方图片二维码免费报名。5月13至15日，立仪科技在重庆国际博览中心S1馆的A123-1展位与您不见不散！
如需了解更多展会信息，或提前咨询产品演示细节，欢迎随时与我们联系。
官方网站：www.lighte-tech.com
咨询热线：0755-28263345
