第二十四届全国半导体物理学术会议于2023年7月14-16日在上海举办，此次会议由中国科学院半导体研究所主办，复旦大学承办，多家著名高校院所协办。会议云集业界多位相关领域的院士，及政府领导、科研单位、高校知名专家学者等。
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展会时间
2023年7月14日-16日
展会地点
上海富悦大酒店
度微展位
C31展位
企业简介
江苏度微光学科技有限公司是一家材料分析仪器高新技术企业，专业从事半导体材料器件测试系统、新材料检测系统、微加工缺陷检测系统等研发和销售。
公司产品应用聚焦于半导体、制造业微加工、新材料测试三大领域，凭借专业的技术、设计巧妙、灵活的光学模块，我们不但提供紧凑、稳定的光谱成像系统，还提供量身定制解决方案，让您的研发生产、实验测试不再受仪器功能所限。
核心产品
光电流成像系统,作为可视化光电流的一个强有力的工具，在新型微纳光电半导体器件的研究中具有不可替代的作用，能够揭示材料微观结构与材料光电特性的相互关系，为理解材料中的缺陷、载流子分布、传输和复合提供有价值的信息。例如：通过光电流成像可以获得探测芯片不同位置处的光电流大小，准确地计算材料的载流子分布、载流子扩散长度等关键电学特性参数。结合可调谐光谱和微区光电流特性的研究，能够辅助光电半导体器件工作机制研究及加工工艺优化，为器件的结构设计与性能提升提供理论上的指导。
X射线光电测试系统
■ X射线荧光光谱测试
■ X射线探测器光电性能测试（直接型和间接型）
■ X射线成像（＜3寸）
■ X射线透过率测试
