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2026年6月9日至11日，PCIM Europe 2026在德国纽伦堡顺利举行。作为全球最具影响力的行业盛会之一，本届展会聚焦电力电子、智能驱动、可再生能源及能源管理等核心方向，汇聚全球产业链企业及专业人士，共探前沿技术、应用趋势与市场机遇。忱芯科技连续四年参与PCIM Europe，此次亮相Hall 7-620展位，带来全新测试解决方案。
展会期间，忱芯科技团队向到访客户及业内同仁展示了在SiC/GaN测试领域的技术积淀与产品布局，并围绕测试精度、产线适配、可靠性验证等核心需求，充分探讨技术思路与落地经验。同时，团队积极参与展会论坛与交流活动，进一步把握国际功率半导体产业技术迭代趋势、海外供应链布局及行业最新动态。
此次PCIM Europe 2026之行，是忱芯科技链接全球市场、展示技术实力的重要契机。未来，公司将不断打磨产品性能、优化技术方案与配套服务，加强海内外产业链协同联动，稳步推进全球市场布局，为全球功率半导体产业高质量发展提供可靠技术支撑。
SiC MOSFET S-Cell KGD测试系统
测试精度高，重复性偏差小，全面兼容不同封装类型
极低杂散电感，超快速多重保护
智能探针清洁，可扩展Handler架构
支持灵活部署，安全保障完备
SiC MOSFET DHTFB动态高温正偏测试系统
大容量可扩展
高可靠测试回路设计
多重防护机制
独特控温方案，加热范围覆盖室温至高温
智能软件控制
SiC MOSFET晶圆级动态WLBI测试系统
应用于6/8英寸SiC MOSFET晶圆老化测试
高兼容·高效的自动化架构
探卡全兼容与先进热沉设计
高可靠晶圆上下料与精准对准
功能完善、可扩展的测试系统
忱芯科技（UniSiC）是功率半导体自动化测试系统解决方案创新领导者，产品可覆盖 SiC、GaN 以及 Si 基功率半导体器件各测试环节，为功率半导体 IDM 企业、新能源车厂及 Tier1、功率器件设计与封装企业提供精准、可靠、高性价比的测试解决方案。
忱芯科技的SiC功率半导体测试系统产品包括：晶圆级动态 WLR 测试系统、芯片级 KGD 测试系统、高温正偏测试系统、动态测试系统、静态测试系统、动态可靠性测试系统、连续功率测试系统等，全面覆盖功率半导体晶圆级测试、芯片级测试、单管/模块级测试和系统级测试，可满足实验室与生产线的多种场景需求。
