SEMICON China 2026
随着人工智能、高性能计算与新能源产业的持续爆发，半导体测试环节正面临着更高效率、更高精度的严苛挑战。作为国内专注于高端测试测量设备的企业，联讯仪器将携覆盖晶圆制造、第三代半导体、光通信及CPO的全产业链测试解决方案重磅亮相SEMICON China 2026盛会。
值此春意盎然之际，我们诚邀全球半导体行业同仁莅临展台，近距离体验联讯仪器在“仪器+设备+解决方案”全生态的最新技术成果，共同探讨智算时代的测试新机遇。
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展品前瞻
· FAB厂设备
WAT (Wafer Acceptance Test) 系统
WAT-WLR (Wafer Level Reliability) 系统
· 高端仪表仪器
电学性能测试：SMU (数字源表) / 半导体参数分析仪
光通信高速测试：DCA (采样示波器) / BERT (误码仪) 以及针对高速线缆的Cable BERT
· SiC (碳化硅) 产品线
WLBI (Wafer Level Burn-in)：晶圆级老化测试系统
KGD (Known Good Die) Handler：SiC KGD测试分选系统
· CPO (共封装光学) 产品线
sCT9002硅光晶圆测试系统
OE (Optical Engine) Die Level 测试机和分选机
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展会信息速览
展会时间：2026年3月25日~27日
展会地点：上海新国际博览中心
联讯展位：T3馆 T3141
SEMICON China 2026 开展在即，联讯仪器蓄势待发！
我们在上海新国际博览中心【展位号：T3馆T3141】，期待与您不见不散！
关于联讯
作为国内高端测试仪器与设备供应商，联讯聚焦高速通信、光芯片及半导体晶圆芯片测试领域，已形成“仪器+设备+解决方案”的完整生态。其产品矩阵包括:
高速测试仪表:采样示波器、时钟恢复单元、误码仪、波长计、精密源表等
光芯片测试设备:激光器CoC老化、裸芯片测试、硅光晶圆测试系统等
半导体测试设备:SiC晶圆老化、SiC裸芯片KGD测试分选、WAT晶圆参数测试系统
行业解决方案:1.6T光互连测试方案等，全面满足客户多元化需求。
更多产品详情，请访问www.semight.com
