膜材测厚 精密赋能
6月24-26日，为期三天的APFE 2026上海国际胶带与薄膜展在上海国家会展中心举办，本届展会汇聚了功能膜材及精密涂布等领域的全产业链前沿技术和高端设备。
方案呈现
展会期间，创视智能展示了多系列应用于半导体、新能源等行业的高精度测量解决方案：红外干涉传感器测量半导体硅片厚度、反射膜厚仪测量光刻胶厚度、光谱共焦位移传感器测量多层膜结构、激光三角位移传感器测量锂电池极片厚度，全面覆盖从纳米级膜层到各类片材的多种精密检测场景。
除现场展示的应用外，创视智能传感器产品还广泛应用于各类精密测量场景。
01
高精度膜厚测量系列
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红外干涉传感器（TS-IR系列）
不透明材料/深色材料/多层结构检测：晶圆研磨抛光过程的厚度监测、晶圆键合GAP层检测、TSV硅通孔测深等。
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白光干涉传感器（TS-IV系列）
透明/半透明薄膜测厚：超薄柔性玻璃（UTG）测厚、PET多层膜材测厚、PCB保型涂层测厚等。
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反射膜厚仪（TS-R系列）
多层透透明测厚、硬薄膜测量：液晶显示膜厚测量、喷涂膜厚测量、精密涂布膜层测厚、光伏硅片Poly层膜厚测量等。
02
高精度位移测量系列
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光谱共焦位移传感器（TS-C系列）
透明曲面/镜面/段差测量：手机曲面R角测量、晶圆对射测厚、结构件平面度测量、油膜厚度&液面高度测量、PCB零件高度差测量、金属工件轮廓测量等。
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激光三角位移传感器（TS-P系列）
中短量程适合3C、精密制造等领域，长量程适合机加、市政等领域：运动平台位置测量、同轴高度对焦测量、高频振动测量、辊压极片在线厚度测量、道路平整度测量、PCB零件高度及板厚测量等。
步履不停
创视智能始终秉持“技术驱动、需求导向、服务优先”的理念，聚焦精密测量传感技术，致力于为智能制造设备企业提供稳定、精准、可靠的测量解决方案。
APFE 2026上海国际胶带与薄膜展虽已落幕，但创视智能的技术探索与创新步伐从未停歇。我们期待与您明年再会！
创视智能·精密测量专家
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