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2026年5月5日至7日，SEMICON Southeast Asia 2026在马来西亚国际贸易展览中心（MITEC）顺利举行。本届展会以“Transform Tomorrow”为主题，聚焦半导体制造、先进封装及产业链协作，汇集来自全球的产业链企业及专业人士，共探行业前沿趋势与市场机遇。
展会期间，忱芯科技团队亮相2649号展位，围绕测试效率提升、产线场景适配等话题，与业内同仁进行了深入交流；同时通过参与论坛活动，进一步加深了对区域产业政策和供应链布局的了解。未来，忱芯科技将继续聚焦SiC、GaN测试领域，持续优化产品与服务，稳步拓展区域合作。
SiC MOSFET裸芯片KGD测试系统
极低杂散电感
超快速多重保护
在线原位探针清洁技术
先进Handler解决方案
SiC MOSFET DHTFB动态高温正偏测试系统
大容量可扩展
高可靠测试回路设计
多重防护机制
独特控温方案，加热范围覆盖室温至高温
智能软件控制
SiC MOSFET晶圆级动态WLBI测试系统
应用于6、8 英寸SiC MOSFET晶圆老化测试
高兼容·高效的自动化架构
探卡全兼容与先进热沉设计
高可靠晶圆上下料与精准对准
功能完善、可扩展的测试系统
忱芯科技(UniSiC)是功率半导体自动化测试系统解决方案创新领导者，产品可覆盖SiC、GaN以及Si基功率半导体器件各测试环节，为功率半导体IDM企业、新能源车厂及Tier1、功率器件设计与封装企业提供精准、可靠、高性价比的测试解决方案。
忱芯科技的SiC功率半导体测试系统产品包括：晶圆级动态WLR测试系统、芯片级KGD测试系统、高温正偏测试系统、动态测试系统、静态测试系统、动态可靠性测试系统、连续功率测试系统等，全面覆盖功率半导体晶圆级测试、芯片级测试、单管/模块级测试和系统级测试，可满足实验室与生产线的多种场景需求。
