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优利德亮相第107届中国电子展暨半导体博览会

作者:本站编辑      2026-04-13 17:34:44     0
优利德亮相第107届中国电子展暨半导体博览会

4月9日至11日,2026年第107届中国电子展暨半导体博览会在深圳举行。本届展会,优利德在9B909展区打造全平台测试测量体验空间,吸引近千名专业观众驻足交流与实测。

作为国内电子测量仪器的代表企业,优利德携UPO70000系列数字荧光示波器、UTS7000A系列信号分析仪、VNA4000系列矢量网络分析仪MSO7000HD系列高分辨率示波器UT3300+多路数据记录仪UT5400系列安规综合分析仪多款新品及全平台产品亮相,从时域到频域、从信号分析到功率测试,为电子信息产业提供完整的测量解决方案。三天展期里,优利德展台始终保持着高人气,技术交流声、按键测试声、探讨答疑声此起彼伏,现场氛围务实而热烈。

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聚焦行业需求,优利德带来全平台测试产品

当前,5G/6G通信、卫星导航、毫米波雷达、高速数字接口等应用快速发展,对测试仪器的频率范围、采样精度和动态储备提出了更高要求。本次展出的多款产品正是对这些需求的直接回应,其中UPO70000系列数字荧光示波器、UTS7000A系列信号分析仪和VNA4000系列矢量网络分析仪成为现场关注的焦点。

UPO70000系列数字荧光示波器将采样率提升至40GSa/s,每通道标配4Gpts存储深度,能够长时间捕获并清晰呈现高速信号中的细微波形;UTS7000A系列信号分析仪覆盖2Hz到40GHz的频率范围,在10kHz处底噪声密度低至-11dBc/Hz,可帮助工程师快速定位频谱中的微弱干扰;VNA4000系列矢量网络分析仪则实现了100kHz~9GHz测试频率和大于138dB的动态范围,显著提高了无源器件、天线、滤波器等高频部件的调试效率。

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现场直击:亲手测试,才是最好的交流

众多专业人员在仪器前驻足,有人反复对比不同校准方式下的相位迹线,有人围绕VNA4000系列讨论S参数测试结果,还有团队在UTS7000A系列前分析带外杂散。优利德的工作人员全程陪同,边看数据边与观众探讨调试思路。屏幕上的波形成为最直接的沟通语言,按键声与讲解声交织在一起。三天的交流印证了一个事实:工程师对更高精度、更宽频段的测试需求从未停止。

测试测量是电子信息产业从设计到量产不可或缺的一环,更宽的带宽、更低的噪声、更高的动态范围,意味着工程师可以更快定位问题、更准验证方案、更稳推动产品落地。展会虽已结束,但优利德对测试测量技术的探索不会停止。我们将持续深耕高带宽、高频率、高精度测试平台,以更可靠、更易用的测量工具,为电子信息产业创新提供扎实的基础,与行业一同迈向更高频、更高速的未来。


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