金属卤化物钙钛矿（MHPs）因其卓越的光电性能和缺陷耐受性，在薄膜太阳能电池、探测器和发光二极管等领域取得了突破性进展。
然而，MHP器件的性能和稳定性受其微观结构的显著影响，特别是缺陷的形成、成分波动和结构不均匀性等因素。透射电子显微镜（TEM）是一种强大的工具，能够以原子尺度分辨率直接观察微观结构，并且已被广泛用于研究MHP薄膜的微结构。
本综述重点介绍了TEM技术在揭示MHP薄膜微结构方面的应用，尤其是在原子尺度上对微观不均匀性的观察。TEM能够揭示MHP薄膜中的各种缺陷，如晶内点缺陷、线缺陷和平面缺陷，以及相分离等现象，这些都直接影响到器件的性能和稳定性。#科研学习 #材料表征数据代分析
然而，MHP器件的性能和稳定性受其微观结构的显著影响，特别是缺陷的形成、成分波动和结构不均匀性等因素。透射电子显微镜（TEM）是一种强大的工具，能够以原子尺度分辨率直接观察微观结构，并且已被广泛用于研究MHP薄膜的微结构。
本综述重点介绍了TEM技术在揭示MHP薄膜微结构方面的应用，尤其是在原子尺度上对微观不均匀性的观察。TEM能够揭示MHP薄膜中的各种缺陷，如晶内点缺陷、线缺陷和平面缺陷，以及相分离等现象，这些都直接影响到器件的性能和稳定性。#科研学习 #材料表征数据代分析
